断面解析は、信頼性試験や製品事故などの故障箇所の可視化に有効な手法です。電子部品のような小さいものから、大型の鋳造品まで様々な大きさの試料に対応します。
標準的な研磨以外にクロスセクションポリッシャやフラットミリングにも対応します。

マイクロフォーカスX線CTは、調査対象品を破壊することなく内部情報を得ることができる信頼性評価・故障解析において重要な手法の一つです。近年では装置の性能の向上により従来では非破壊では観察が難しかった樹脂の欠陥や微細なクラックなども見られるようになってきております。
非破壊であるため、信頼性試験の中間観察や１点しかない市場製品事故などの解析に有効です。また、欠陥部（クラックやボイド）の長さの測定や体積の測定なども可能性です。　

代表装置仕様

サンプルの外観写真は信頼性評価を行う上で重要な情報です。品目の形状、色、クラックなどに劣化状況を判定する情報が詰まっています。
試験前、試験後で比較する外観写真をお勧めします。デジカメを使用した撮影から、マイクロスコープやSEMなど様々な手法の観察に対応します。

金属部品などの腐食の進行具合は定量化できます。質量減量、腐食面積測定や最大侵食深さ（3D、断面）などの手法で腐食試験後の定量解析が対応可能です。
また腐食部分のEDX元素分析を行い原因究明などに役立つ情報をご提供します。

焼損事故調査のスペシャリストが事故調査を通じてお客様が直面しているあらゆるフェーズの問題の手助けを致します。調査方法はお客様の希望を聞き取り、当社より調査方法とお見積りをご提示いたします。 当社はNITEの原因究明ネットワーク機関に登録されております。

安全性の確保に主眼おいた、電化製品の良品解析を行っております。長年の焼損事故解析から培われた経験をもとに、誤使用・ワーストケース・保護部品、過去の事故事例などに着目した解析を行います。お客様のご希望を伺い、お客様とともに調査方法を決めていきます。

積層セラミックコンデンサはショートするとセラミックヒーターのように発熱し、直下の基板に印加し、発火事故に至る原因となります。また、フィルムコンデンサやアルミ電解コンデンサもショート／オープン故障・事故が発生しております。当社では、豊富な経験より各種コンデンサの故障解析および再現実験、信頼性試験を実施しております。

環境試験を行ったサンプルに対して判定が必要になります。電子部品の劣化状況を定量化するために電気的測定が有効です。
ETACでは各種計測器を取り揃えでお客様のご要望にお応えします。環境試験を行いながらの連続測定環境の構築やデータまとめ、グラフ化などのご報告形式についても柔軟に対応します。

代表装置仕様

その他レンタルで計測器を手配する事が可能です。

樹脂や接着剤などの材料は電気的な測定が出来ません。これらのサンプルに対して定量的な評価を行う場合は引張試験が有効です。
環境試験で途中取出ししたサンプルの強度を時系列に並べて、強度の劣化で信頼性評価する事が可能です。
またコネクタやハーネスに代表される電子部品の評価には端子の保持力やコネクタの勘合力および離脱力の測定は欠かせません。環境試験と合わせて引張試験のご検討ください。

ETACでは電気自動車（EV）に使用されるモータやインバータの評価に対応しています。環境試験だけでなく左記の各種測定も同時に試験が可能ですので評価と合わせてご利用ください。
自動車部品の評価はシーケンシャルな評価が要求されます。環境試験と環境試験の間の機能確認をお客様にお戻しする事なく評価全体をトータルで対応させていただきます。

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