• コンデンサのバーンイン試験や寿命評価が可能
• 印加・測定回路がチャネルごとに独立
• 最大印加電圧は250V／500V／1000Vから選択
• 最大電流は50mA／ch（250V／500V）と20mA／ch（1000V）
• チャネル数は10～200ch
• 250Vタイプには故障解析のための”寸止め機能”搭載

■パーピンアーキテクチャ

印加用電源や測定回路がチャネルごとに独立しているため、一部のコンデンサが破壊に至っても他のチャネルのコンデンサには影響を与えません。
1台の電源に複数サンプルを並列接続する従来方法ですと、サンプル破壊時の過電流を考慮して直列に接続している保護抵抗とサンプルが分圧を起こし、正確にストレス電圧をサンプルに印加できず結果の再現性が低下していました。
TLE60では保護抵抗がないため破壊間際のサンプルにも設定通りのストレス電圧を印加することが可能です。

■大電流

電流容量が大きいため、バーンイン試験では1チャネルあたり20～50個のコンデンサを並列接続することも可能です。

■寸止め機能

250Vボードには50μsec間隔で電流を監視し、しきい値を超えると即座に印加OFFする機能があります。
これは故障解析のため過電流による破壊の進行を止める機能です。

コンデンサ特性評価システム

キーサイト製LCRメータE4980Aをコアとし、スキャナユニットを使用することで最大40個のコンデンサ主要特性である以下の項目について温度・周波数特性を測定

1. 1.静電容量（キャパシタンス／C）
2. 2.tanδ（D）
3. 3.ESR
4. 4.インピーダンス（Z）
5. 5.位相（θ）

• HIFLEX-NEOシリーズを使用して温度・周波数特性を自動で測定
• 温度範囲は－70℃～150℃
• 周波数範囲は20Hz～2MHz
• チャネル数は5～40ch
• バイアス電圧は最大600Vまで対応
• 「4端子対方式※1」に対応しており高精度な測定が可能
• チャネル・温度・周波数ごとに個別のOPEN／SHORT補正が可能
• LOAD補正については、チャネル・周波数ごとに補正が可能

■4端子対方式

4端子対方式とは4線式に加え、電磁気的な誤差要因を軽減させた測定方式です。
MCL42は自社開発のスキャナ回路により4端子対測定を実現しています。

■徹底した測定誤差要因の排除

治具の配置や測定ケーブルのレイアウトにより測定値に誤差が生じるため、チャネルごとに独立した補正が必要です。
また、温度や周波数などの条件が変わった際も同様です。
MCL42では、チャネルごとの個別の補正はもちろんのこと、周波数・温度ごとにもOPEN／SHORT補正が可能です。