耐候性試験
HAST
HAST（高加速ストレス試験）は、高温・高湿・圧力環境下で試料品を短時間で劣化させ、信頼性や耐久性を加速的に評価する試験です。封止材の劣化や内部腐食、絶縁不良などの潜在的な不具合を早期に検出できます。
試験方式
HAST（不飽和制御）
不飽和制御によるHASTは、加圧下で高温・高湿状態を維持しつつ、水滴が発生しないよう湿度を制御する方式です。飽和蒸気状態を避けることで、製品内部に結露が生じにくく、実使用環境に近い状態での評価が可能です。電子部品や半導体パッケージにおける内部腐食・封止材の吸湿による劣化・絶縁不良などの早期評価に適しており、加速ストレスを効率的にかけつつ、製品の本来の劣化モードを再現しやすいのが特徴です。
参考費用 ¥800/h〜
使用装置
PC422R8
装置に関する詳細を見る
| 型式 | PC422R8 |
|---|---|
| 温度範囲 | +105℃～+150℃ |
| 湿度範囲 | 65%RH～100%RH |
| 内寸法 | Φ340×475㎜ |
温度範囲
+105℃～+150℃
湿度範囲
65%RH～100%RH
試験範囲（W×H×Dmm）
Φ340×475㎜
該当規格
●一般・電気・電子部品
●半導体
●自動車
JIS C 60068-2-066
JESD22-A110
JESD22-A118
JEITA ED-4701/100
試験規格に関する詳細を見る
JIS C 60068-2-030 | 環境試験方法－電気・電子－高温高湿，定常（不飽和加圧水蒸気） |
| HIGHLY ACCELERATED TEMPERATURE AND HUMIDITY STRESS TEST (HAST) |
| ACCELERATED MOISTURE RESISTANCE – UNBIASED HAST |
JEITA ED-4701/100 | 半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法（寿命試験I） |
HAST（飽和制御）
飽和制御によるHAST試験（Saturated HAST）は、試験槽内を水蒸気で飽和させた状態で高温・加圧環境を作る方式です。湿度はほぼ100%RHに達し、試験中に水滴（結露）が試験体の表面に付着することもあります。この試験方式では、水分が製品表面や内部に直接接触する過酷な条件下での耐湿性評価が可能となり、より厳しい環境下での限界評価や初期不良の抽出に適しています。製品の密封性や外装材の耐水性能を検証する際にも有効です。
参考費用 ¥800/h
該当規格
●一般・電気・電子部品
●半導体
●自動車
JIS C 60068-2-066
JESD22-A110
JESD22-A118
JEITA ED-4701/100
試験規格に関する詳細を見る
JIS C 60068-2-030 | 環境試験方法－電気・電子－高温高湿，定常（不飽和加圧水蒸気） |
| HIGHLY ACCELERATED TEMPERATURE AND HUMIDITY STRESS TEST (HAST) |
| ACCELERATED MOISTURE RESISTANCE – UNBIASED HAST |
JEITA ED-4701/100 | 半導体デバイスの環境及び耐久性試験方法（寿命試験I） |
使用装置
PC422R8
装置に関する詳細を見る
| 型式 | PC422R8 |
|---|---|
| 温度範囲 | +105℃～+150℃ |
| 湿度範囲 | 65%RH～100%RH |
| 内寸法 | Φ340×475㎜ |
最大温度範囲
+105℃～+150℃
最大湿度範囲
65%RH～100%RH
最大庫内寸法（W×H×Dmm）
Φ340×475㎜
セット試験
併せて実施することができる試験です。
試験オプション
試験後に併せて実施していただくことでより詳細で正確な試験結果を得ることができます。