製品の特徴

• コンデンサのバーンイン試験や寿命評価が可能
• 印加・測定回路がチャネルごとに独立
• 最大印加電圧は250V／500V／1000Vから選択
• 最大電流は50mA／ch（250V／500V）と20mA／ch（1000V）
• チャネル数は10～200ch
• 250Vタイプには故障解析のための”寸止め機能”搭載

パーピンアーキテクチャ

印加用電源や測定回路がチャネルごとに独立しているため、一部のコンデンサが破壊に至っても他のチャネルのコンデンサには影響を与えません。
1台の電源に複数サンプルを並列接続する従来方法ですと、サンプル破壊時の過電流を考慮して直列に接続している保護抵抗とサンプルが分圧を起こし、正確にストレス電圧をサンプルに印加できず結果の再現性が低下していました。
TLE60では保護抵抗がないため破壊間際のサンプルにも設定通りのストレス電圧を印加することが可能です。

大電流

電流容量が大きいため、バーンイン試験では1チャネルあたり20～50個のコンデンサを並列接続することも可能です。

寸止め機能

250Vボードには50μsec間隔で電流を監視し、しきい値を超えると即座に印加OFFする機能があります。
これは故障解析のため過電流による破壊の進行を止める機能です。

多彩なコンデンサに対応