絶縁信頼性測定システム
SIR13
専用設計のSMU計測ボードにより、業界最高水準の精度でエレクトロケミカルマイグレーション・絶縁抵抗・絶縁特性評価の同時計測可能。
  • マルチチャネルでの絶縁信頼性測定が可能
  • 全チャネル20msec間隔で測定／判定しているため経時的な絶縁劣化だけでなくエレクトロケミカルマイグレーションを漏らさず測定
  • 最大印加電圧を250V／1kV／1.5kV／3kV／6kV／10kVから選択可能
  • チャネル数は8〜128ch
  • 電圧印加用電源はチャネルごとに独立
  • Windowsアプリケーションにより簡単操作＆データ管理

エタックは1994年、業界で初めてエレクトロケミカルマイグレーション現象を電気的に捉え、高温高湿度環境下での槽内測定が可能な「SIR10」を発表。
以来、バージョンアップを重ね2005年には「SIR13」へと進化しました。

さらに、2010年には最大10kVの高電圧が印加可能なHVシリーズをラインナップに加えました。これにより、今まで困難とされていた多CH同時での高耐圧試験も可能となりました。

エレクトロケミカルマイグレーションを漏らさず捕捉

ETAC方式

スキャナ方式

ラインナップ

VXI筐体を採用していることにより、使用目的に応じて以下のボードを最大8ユニットまで自由に組み合わせることが可能です。

ユニット名CH数電圧源印加レンジ測定レンジ
250Vフォースコモンボード161電源/8ch250V320μA/3.2μA/32nA
250Vパーピンボード161電源/1ch250V320μA/3.2μA/32nA
250Vハイプレシジョンボード81電源/1ch25V/250V320μA/3.2μA/32nA/320pA
1kVボード81電源/1ch1kV320μA/3.2μA/32nA
1.5kV高電圧ユニット81電源/1ch25V/250V/1.5kV320μA/3.2μA/32nA/320pA または3.2mA/320μA/3.2μA/32nA
3kV高電圧ユニット81電源/1ch25V/250V/3kV320μA/3.2μA/32nA/320pA または3.2mA/320μA/3.2μA/32nA
6kV高電圧ユニット81電源/1ch25V/250V/6kV320μA/3.2μA/32nA/320pA または3.2mA/320μA/3.2μA/32nA
10kV高電圧ユニット81電源/1ch25V/250V/10kV320μA/3.2μA/32nA/320pA または3.2mA/320μA/3.2μA/32nA
標準筐体
スリム筐体
高電圧ユニット

Windowsアプリケーション

メイン画面

メイン画面ではチャネルごとにマークで状態を表示します。

経過グラフ

時間経過による絶縁抵抗変化を示したグラフです。後半ではエレクトロケミカルマイグレーション（●印）が多発していることが判ります。

マイグレーショングラフ

エレクトロケミカルマイグレーションの発生から終息までの測定結果を個別グラフに表示できます。エレクトロケミカルマイグレーション発生の約2.5秒前のデータから収録します。（※1kVボードは除く）

試料接続の利便性追求

主力の250Vパーピン／フォースコモンボードでは、試料接続の利便性を考慮して製織ケーブルを採用しています。これにより槽内配線やCH番号識別を容易にしています。（※写真は8CH試料ケーブルです）