接続信頼性試験

導通信頼性試験

導通信頼性試験は、温度変化によるはんだ接合部の劣化や断線を評価する試験です。抵抗変化を通じて電子部品の耐久性を定量的に確認できます。

接続信頼性試験

絶縁信頼性試験

高温多湿下で電圧を印加し、抵抗変化から絶縁劣化やマイグレーションの発生を観測し短絡や故障リスクの予測と信頼性を評価する試験です。