絶縁信頼性測定システム
SIR13
専用設計のSMU計測ボードにより、業界最高水準の精度でエレクトロケミカルマイグレーション・絶縁抵抗・絶縁特性評価の同時計測可能。
導通信頼性測定システム
MLR23
業界最高速測定で高速温度サイクルにも対応し、試験時間の大幅な短縮に貢献。
瞬断検出システム
ED71
専用設計のSMU計測ボードにより、業界最高水準の精度でエレクトロケミカルマイグレーション・絶縁抵抗・絶縁特性評価の同時計測可能。
コンデンサ評価システム
TLE60
コンデンサのバーンイン試験や寿命評価が可能。印加・測定回路がチャネルごとに独立したパーピンアーキテクチャにより正確なストレス電圧をサンプルに印加できます。
コンデンサ評価システム
MCL42
HIFLEX-NEOシリーズを使用して温度・周波数特性を自動で測定します。4端子対方式に対応し高精度な測定が可能です。