絶縁信頼性測定システム

SIR13

SIR13は、独自の専用設計のSMU計測ボードによりエレクトロケミカルマイグレーション・絶縁抵抗・絶縁劣化特性を高水準同時測定が可能な絶縁劣化・特性評価テスタ装置です。

導通信頼性測定システム

MLR23

MLR23は、最大288chのマルチチャネル測定に対応した導通（接合）信頼性評価システムです。スキャナ方式ながら高速測定を実現し熱衝撃や高湿度下の評価に威力を発揮します。

瞬断検出システム

ED71

ED71は、瞬間的な断線（瞬断）を捉えるイベントディテクタです。コネクタやはんだ接合部の導通性能を一瞬の異常も逃さず記録することで、高精度な評価を実現可能にします。

コンデンサ評価システム

TLE60

TLE60は、コンデンサのバーンイン・寿命評価をするシステムです。測定回路がチャネルごとに独立したパーピンアーキテクチャにより正確なストレス電圧を試料に印加できます。

コンデンサ評価システム

MCL42

MCL42は、試験器と連携してコンデンサの温度・周波数特性を自動測定するシステムです。4端子対方式での高精度測定、各チャネル・周波数・温度ごとの補正に対応しています。