• 
• ホーム
• 製品
  • • • 環境試験器
        • HIFLEX NEO-E低温恒温恒湿器
        • HIFLEX NEO-ES低温恒温恒湿器
        • HIFLEX SC低温恒温恒湿器
        • HIFLEX SBC二次電池評価用安全増恒温槽
        • WINTECH NEO温度サイクル試験器
        • HISPEC高温恒温器
        • COLONIA大型恒温恒湿室
        • DEW CYCLE結露サイクル試験器
        • LABONIC医薬品安定性試験器
    • • WeissTechnik
        • ShockEvent試料移動型冷熱衝撃試験器
        • ClimeEventハイパワー急速温度変化試験器
        • ESS-Jハイパワー急速温度変化試験器
        • SunEvent耐光試験器
        • 大型ワイドタイプ低温恒温恒湿器
    • • 信頼性評価システム
        • SIR13絶縁信頼性測定システム
        • MLR23導通信頼性測定システム
        • TLE60コンデンサ評価システム
        • MCL42コンデンサ評価システム
        • ED71瞬断検出システム
    • • その他の製品サービス
        • リセール製品
        • 東海圏向けレンタルサービス
        • 低GWP冷媒
• 受託試験
  • • • 全ての試験
  • • • 温度試験
        • 高温保存試験HTS
        • 低温保存試験LTS
        • 高温作動試験HTO
        • 低温作動試験LTO
    • • 温度試験（サイクル）
        • 温度サイクル試験TCT
        • 熱衝撃試験 液槽式TST
        • 熱衝撃試験 気槽式TST
        • 急速温度変化試験TCC
        • パワーサイクル試験PCT
        • 恒温恒湿保存試験THS
    • • 温湿度試験
        • 恒温恒湿バイアス試験THB
        • 高加速寿命試験HAST
        • プレッシャークッカー試験PCT
        • 低温低湿試験
    • • 温湿度試験（サイクル）
        • 温湿度サイクル試験
        • 結露サイクル試験
  • • • 機械的試験
        • 振動試験
        • 衝撃試験
        • 落下試験
        • 引張試験
        • 圧縮試験
        • 曲げ試験
    • • 特殊環境試験
        • 塩水噴霧試験
        • 防水・耐水試験
        • ガス腐食試験
        • オゾン試験
        • 耐候性試験
        • 耐光性試験
    • • 性能測定試験
        • 充放電試験
        • 導通信頼性試験
        • 絶縁信頼性試験
        • 瞬断評価（ED）
        • エレクトロマイグレーション
        • エレクトロケミカルマイグレーション
    • • 分析/解析/観察
        • 外観観察
        • 断面解析
        • X線CT解析
        • 腐食解析
        • エアリーク測定
        • 重量測定
        • 成分分析
        • 電気的測定
        • コネクタ/ハーネスの測定
• サポート
• ダウンロード
• お知らせ（note）
• 事業概要
  • Global Business
• お問い合わせ
• English

ホーム 操作・制御